Separatore di raggi cubici
Capacità di elaborazione
In grado di realizzare i processi completi nella progettazione ottica, nella progettazione dello strumento, nello stampaggio ad alta precisione dei componenti,
lavorazione planare, lavorazione sferica, lavorazione asferica, rivestimento, ecc.
Applicazioni
Informazioni fotoelettriche;aerospaziale;nuova energia;apparecchiature per l'energia nucleare e l'energia nucleare e altri campi.
Prestazione
1.1 Semiriflettore cubico non polarizzato
● È composto da due prismi ad angolo retto e il rapporto tra luce riflessa e luce trasmessa è 1:1 (il rapporto nonnon
variano con la componente polarizzante).
● La superficie incidente e la superficie di uscita sono rivestite con film multistrato antiriflesso.
● La larghezza di banda effettiva è ridotta, progettata per una lunghezza d'onda specifica.
● La luce trasmessa difficilmente provoca lo spostamento dell'asse ottico e il fenomeno della doppia immagine.
1.2 Semiriflettore cubico a film dielettrico
● È composto da due prismi ad angolo retto, uno dei quali è rivestito con pellicola dielettrica multistrato parzialmente riflettente su
ilpiano inclinato.
● Uno spettroscopio divide la luce incidente in luce riflessa e luce trasmessa in un rapporto 1:1.
● Le superfici di ingresso e di uscita del cubo sono rivestite con film multistrato antiriflesso.
● La perdita di luce in ingresso è ridotta perché il film dielettrico è meno assorbito.Il rapporto tra riflettività e
trasmissionevaria con la lunghezza d'onda, lo stato di polarizzazione e l'angolo di incidenza.
● Lo spettroscopio cubico difficilmente causa il fenomeno dell'offset dell'asse ottico e della doppia immagine.
Caratteristiche
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Cube Beam Splitter: 1.1 Semi riflettore cubico non polarizzato |
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| Modello | Spettroscopio-CB-X |
| Materiale | H-K9L(BK7), quarzo, vetroceramica |
| Pellicola ottica |
Piano inclinato: Film dielettrico multistrato parzialmente riflettente 4 lati: Film multistrato antiriflesso |
| Precisione superficiale | λ/6 |
| Dimensione effettiva | 0,95 |
| Deviazione dell'asse ottico | ≤30 secondi |
| Qualità della superficie | 40-20 |
| Tolleranza dimensionale | ±0,1 mm |
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